將異常品置于65℃的烤箱中，并對(duì)以下信號(hào)進(jìn)行測(cè)試：MCU供電、TXD、CAN差分、CAN模塊供電。未出現(xiàn)異常時(shí)，各點(diǎn)波形如圖4。可以看到，MCU是3.3V供電，電壓穩(wěn)定在3.2V左右，CAN模塊供電穩(wěn)定在5.07V左右，CAN差分波形與TXD信號(hào)對(duì)應(yīng)無(wú)異常。

圖4 正常時(shí)波形

對(duì)異常板卡進(jìn)行重復(fù)上電，CAN總線出現(xiàn)大量錯(cuò)誤幀，問(wèn)題復(fù)現(xiàn)。異常時(shí)，各點(diǎn)波形如圖5，MCU供電電壓、CAN模塊供電電壓同時(shí)出現(xiàn)波動(dòng)，并出現(xiàn)異常位。異常位出現(xiàn)時(shí)，MCU供電下降到3.08V，CAN模塊供電上升至5.19V。

圖5 異常時(shí)波形

仔細(xì)觀察異常位波形，如圖6，發(fā)現(xiàn)TXD變?yōu)楦唠娖綍r(shí)，CAN差分電平并未跟隨變化，而當(dāng)TXD再次出現(xiàn)一個(gè)小的噪聲尖峰時(shí)，CAN差分電平才變?yōu)殡[性電平。結(jié)合此時(shí)MCU供電電壓下降，CAN模塊供電反而上升的情況，初步確定問(wèn)題是因供電電壓波動(dòng)，造成TXD高電平無(wú)法識(shí)別導(dǎo)致。

圖6 異常位波形

2、問(wèn)題定位

因懷疑TXD電平無(wú)法識(shí)別，對(duì)CAN模塊的TXD高電平閥值電壓值進(jìn)行測(cè)試。不同輸入電壓下，測(cè)試數(shù)據(jù)如表3。

表3 異常品TXD高電平閥值電壓

從測(cè)試數(shù)據(jù)看出，在不同的環(huán)境溫度下，TXD高電平閥值電壓變化均不大。4.75V供電時(shí)，閥值約2.91V；5V供電時(shí)，閥值約3.06V；5.25V供電時(shí)，閥值約3.2V。