對于設(shè)計特征，ATE高速驅(qū)動和捕獲能力必須配合高定時的精度。同等重要的是，必須提供的ATE功能是經(jīng)濟的，因為半導(dǎo)體廠家面對巨大的成本壓力。
高速ATE要求如下：
·高度靈活性：其能力包括各種不同的I/O類型。
·完全可量測性：其能力包括所需速度的整個范圍和所需的引腳資源。數(shù)據(jù)率范圍從幾百兆赫到幾千兆赫，所需引腳數(shù)高達(dá)2000引腳。
·高性能：高精度和快速吞吐量。
·多時鐘域支持。
·負(fù)擔(dān)得起的成本。
結(jié)語
不管現(xiàn)在的進(jìn)展如何，全速度結(jié)構(gòu)和BIST基環(huán)回測試不大可能解決與納米制造缺陷相關(guān)定時的所有問題。隨著大多數(shù)產(chǎn)品壽命周期變得越來越短，而檢驗和最佳化DFT電路達(dá)到必須的水平變得更加困難。
很多情況下，DFT基技術(shù)將與有限數(shù)的功能全速度圖形共存，這可填充僅DFT技術(shù)的漏失測試范圍。因此，可提供高速、高密度和高度通用的ATE將仍然是獲得成功半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵。
