CORE白光葉片測量系統(tǒng)是一種光學(xué)非接觸式點(diǎn)掃描測量設(shè)備，在硬件和軟件方面針對葉片測量做了專門的設(shè)計和優(yōu)化。CORE-DS的白光點(diǎn)測頭使用白光作為光源，相比接觸式測量具有更高的分辨率，其光點(diǎn)直徑大小僅為35μm，能夠檢測到被測物體表面最微小的幾何特征與缺陷，特別適合葉片進(jìn)氣邊與出氣邊的測量。CORE使用白光測頭進(jìn)行測量，能夠避免接觸式測頭在測量葉片過程中容易出現(xiàn)的測針半徑補(bǔ)償錯誤，從而使得測量結(jié)果更加準(zhǔn)確。相比其它光學(xué)測量設(shè)備，CORE-DS的白光測頭對物體表面的適用性很高，完全無需對物體表面做任何處理即可進(jìn)行測量，可以測量的物體包括高光亮表面、黑色表面甚至是鏡面物體，且可以做到光線與物體表面夾角低至5°。
從測量結(jié)果來看，此葉片的最大厚度為0.7mm、最大弦長為11mm、排氣邊半徑僅有0.075mm。測試結(jié)果表明，CORE具有測量極小葉片的能力，且相比接觸式測頭與其它光學(xué)測頭效果突出。
