隨著5G/6G通信、毫米波雷達(dá)、可穿戴傳感器等技術(shù)發(fā)展，天線的尺寸越來(lái)越小，并逐步向著微型化方向發(fā)展，以芯片天線、封裝天線為代表的各類(lèi)片上天線得到了快速發(fā)展和應(yīng)用。由于異于常規(guī)天線的結(jié)構(gòu)和性能特性，片上天線測(cè)試過(guò)程中面臨著如何穩(wěn)定饋電、準(zhǔn)確獲取空間輻射信號(hào)、準(zhǔn)確提取出天線性能參數(shù)等難題。針對(duì)測(cè)試難題，電科思儀的片上天線測(cè)試系統(tǒng)可以幫助用戶解決測(cè)試?yán)_。

圖1 片上天線測(cè)試系統(tǒng)

圖2暗箱內(nèi)部實(shí)物圖

1.基于顯微輔助同步探針饋電技術(shù)；由于片上天線和探針都非常小，為了輔助饋電，在片上天線饋電平臺(tái)上設(shè)計(jì)了電子顯微鏡，通過(guò)電子顯微鏡的顯示器可以清楚地觀察探針和饋電點(diǎn)位置，如圖3、圖4所示。

圖3 探針饋電

圖4 探針與饋電點(diǎn)實(shí)景圖

2.基于自動(dòng)避障的三維測(cè)試技術(shù)；由于暗箱空間有限，為了保障饋電平臺(tái)安全，片上天線測(cè)試系統(tǒng)具有自動(dòng)避障技術(shù)，能夠自動(dòng)完成片上天線的近場(chǎng)或遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試，測(cè)試結(jié)果如圖5、圖6所示。  

圖5 三維立體圖

圖6 強(qiáng)度圖顯示

3.基于低散射結(jié)構(gòu)的減振平臺(tái)設(shè)計(jì)；減振平臺(tái)中載片臺(tái)用于承載片上天線，采用低損耗、低介電的材料制作，減小電磁反射對(duì)測(cè)試精度的影響。由于探針是易耗品，比較脆，為了防止機(jī)械裝置運(yùn)動(dòng)帶來(lái)的震動(dòng)對(duì)探針造成損害，減振平臺(tái)采用主動(dòng)式減振基座進(jìn)行了減振處理，如圖7、圖8所示。        

圖7 載片臺(tái)

圖8 減振基座

電科思儀研制的片上天線測(cè)試系統(tǒng)能夠完成方向圖、增益、極化等參數(shù)的準(zhǔn)確測(cè)試，系統(tǒng)已在國(guó)內(nèi)多家單位得到了應(yīng)用，取得了滿意效果，為各類(lèi)片上天線的研制提供了測(cè)試保障。