引言
半導(dǎo)體數(shù)字測試,特別是由STIL、WGL、VCD、EVCD或ATP等仿真文件轉(zhuǎn)換而成的數(shù)字測試程序,往往需要擴展到多個DUT測試位點。本文討論了使用GtDio6x產(chǎn)品線和ATEasy®進行多位點測試的系統(tǒng)硬件和軟件需求,以提供一個成本有效的解決方案。
數(shù)字設(shè)備設(shè)計注意事項
在設(shè)計多位點測試程序時,設(shè)計者可能無法完全明確成本和性能之間的取舍。在評估GX5296或GX5964系列動態(tài)數(shù)字儀器的性能和能力后,可以合理地推斷單個GtDio6x板卡的大量通道應(yīng)該能夠支持多位點數(shù)字測試解決方案。雖然這種解決方案是可能的,但它并不能構(gòu)建一個性能能滿足每個DUT測試位點都使用數(shù)字資源或板卡的測試系統(tǒng)。
基于逐個位點的多數(shù)字域的解決方案
Marvin Test Solutions公司建議設(shè)計基于每個位點的多數(shù)字域的多位點測試系統(tǒng),以便每個DUT測試位點使用自己的數(shù)字資源,如圖1所示。該解決方案提供了最快的多位點測試性能,因為每個DUT測試位點可以獨立運行。
圖1 -多域解決方案框圖
使用這種配置方法,每個DUT測試位點都可以使用所有的數(shù)字資源。通過讀取實時比較(RTC)錯誤狀態(tài)寄存器,可以立即識別每個DUT測試位點的測試狀態(tài)。此外,系統(tǒng)可以設(shè)計成每個DUT測試位點使用相同的數(shù)字測試文件和測試程序。通過增加額外的數(shù)字領(lǐng)域,DUT測試位點可以很容易地擴展。使用ATEasy®也可以輕松創(chuàng)建一個多線程測試程序來執(zhí)行此測試。
表1 -多域解決方案的相對優(yōu)點
基于單一數(shù)字域的解決方案
如圖2所示,使用單個數(shù)字域設(shè)計的多位點數(shù)字測試系統(tǒng)有幾個缺點。首先,每個測試位點不能再使用相同的數(shù)字文件。單一數(shù)字域的多位點數(shù)字測試解決方案需要一個獨立的應(yīng)用程序從原始數(shù)字文件創(chuàng)建額外的測試位點。這個額外的應(yīng)用程序需要將原始通道和矢量數(shù)據(jù)復(fù)制到所有新的DUT測試位點。
圖2 -單一域解決方案框圖
盡管僅讀取和評估記錄存儲器就可以確定所有DUT位點的狀態(tài),但由于大多數(shù)數(shù)字測試的大小都非常大,這種方法并不實用,因為它會消耗太多的測試時間。
RTC錯誤地址內(nèi)存包含高達1K的失敗向量地址,可以讀取每個地址的記錄內(nèi)存來確定失敗的DUT位點。由于每個測試入口都表示一個失敗的位置,所以不會浪費時間從記錄內(nèi)存中讀取大量部分來確定測試失敗。除非失效次數(shù)小于1k或以上所述所有DUT均已失效,否則無法確定所有DUT的狀態(tài)。在這種情況下,測試程序必須禁用失敗的測試位點,并重新運行數(shù)字測試,直到所有DUT測試位點的狀態(tài)已知。GtDio6x系列數(shù)字儀器提供了一種在檢測到故障時中止測試序列的方法;當出現(xiàn)故障時,該特性可以節(jié)省測試時間。
表2 -單域解決方案的相對優(yōu)點
方案比較
以下是兩種方案的比較:
總結(jié)