除非半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)的空間(PXI插槽)十分寶貴，否則多位點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)在設(shè)計(jì)時(shí)還是應(yīng)該為每個(gè)DUT測(cè)試位點(diǎn)提供一個(gè)數(shù)字域。雖然硬件的前期成本會(huì)很高，但這會(huì)在后期測(cè)試過(guò)程中帶來(lái)巨大的回報(bào)。這保證了盡可能快的測(cè)試時(shí)間并簡(jiǎn)化了測(cè)試編程，在多位點(diǎn)數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中，這些功能是至關(guān)重要的。
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