在定位了光纖纖芯之后，由于在光纖端面上不同圓環(huán)范圍內(nèi)所用的檢測標準也不同，所以要以纖芯中心為圓心作不同區(qū)域的圓環(huán)，再在每個圓環(huán)內(nèi)按規(guī)定的檢測標準進行檢測。如果有任意一個圓環(huán)內(nèi)的檢測不能通過，則這個光纖就是有缺陷的，不能通過。在劃分區(qū)域的時候，由于通過光纖端面檢測儀采集得到的圖像在VBAI環(huán)境下是以像素(pix)為計量單位的，而一般檢測標準中給出的光纖端面檢測要求是以微米(μm)為計量單位的，所以要通過公式(2)進行轉(zhuǎn)換將微米(μm)轉(zhuǎn)換成像素(pix)。轉(zhuǎn)換的時候需要知道一個參數(shù)：dpi(每英寸多少點)，知道了dpi就可以從公式(2)得到像素與微米的轉(zhuǎn)換關(guān)系。設(shè)P為像素，D為dpi，I為英尺，M為微米，則：

一張圖片的dpi可以通過一些常用的看圖軟件得到(如Acdsee，Photoshop等)，平時所用的640×480或800×600等標準的分辨率的dpi是一個常數(shù)：96。這樣在對光纖端面進行區(qū)域劃分的時候，就能準確地算出每個圓環(huán)的直徑，從而對整個光纖端面可以進行細致并且精確的檢測。

2.3缺陷的檢測

2.3.1不同的閾值

光纖端面缺陷包括白點(崩缺)、黑點(臟污)、陰影(內(nèi)裂)以及劃痕。其中崩缺和劃痕是顏色亮于光纖端面的部分，而臟污和陰影是顏色暗于光纖端面的部分。要檢測出這些缺陷，對每個區(qū)域的每個亮部檢測前都要重新對原始圖像進行一次圖像處理，同時對每個區(qū)域的每個暗部檢測前也要重新對原始圖像進行一次圖像處理，以便設(shè)置不同的閾值以區(qū)分出比光纖端面亮的部分和比光纖端面暗的部分。這樣在檢測過程中就先后對暗部和亮部進行了檢測，如果兩者中任何一種檢測不能通過，則這個區(qū)域的檢測就是不能通過的。

光纖端面需要進行檢測的區(qū)域包含了光纖包層和光纖包層以外的陶瓷部分，所以亮色缺陷和暗色缺陷除了分布在光纖包層上外還有可能會分布在陶瓷面上。由于光纖包層在采集的圖像中是暗色的，與暗色的缺陷色度比較接近，而包層外的陶瓷部分色度則更接近于亮色的缺陷。所以檢測光纖包層上和包層外陶瓷面上的缺陷時，針對暗色缺陷和亮色缺陷都需要分別設(shè)定不同的閾值，才能準確地檢測出整個端面的缺陷。因此利用VBAI檢測光纖包層外的陶瓷面區(qū)域時，需要重新根據(jù)雙峰法設(shè)定閾值，如圖5所示。

圖5對包層內(nèi)和包層外暗色缺陷和亮色缺陷的不同二值化處理

由圖5可見，在檢測的過程中，必須要針對暗色缺陷和亮色缺陷在光纖端面包層內(nèi)外的不同分布，分別設(shè)定不同的閾值，否則會極大的影響檢測的精確度。需要注意的是，纖芯本身就是亮色的，所以亮色缺陷檢測過程中需要把纖芯忽略掉。

2.3.2缺陷的判定

在光纖端面缺陷檢測中，既有不能接受的缺陷，也有可以接受的缺陷，對于崩缺、臟污、內(nèi)裂和劃痕這類缺陷顆粒，鑒定其能不能被接受就取決于它們的大小與長度。一般，評價它們的大小與長度主要是根據(jù)其費雷特直徑(FeretDiameter)的大小。費雷特直徑是一種常用的顆粒直徑表示方法，對于規(guī)則的球形顆粒，可以用“直徑”來精確描述其大小，但是絕大多數(shù)情形下顆粒尤其是劃痕的形狀都不是球形，用直徑表示顯然欠確切，也容易引起誤解。因此，表示顆粒大小引用“顆粒直徑”的概念。所謂顆粒直徑，即表示顆粒大小的“一因次”尺寸?！耙虼巍庇址Q為量綱，是基本物理量的度量單位，例如長短、體積、質(zhì)量、時間等等。同一顆粒，由于應(yīng)用場合不同，測量的方法也往往不同，所得到的顆粒直徑的值當然也不同，如：在顯微鏡下觀察到的是顆粒在與視線垂直的平面上的尺寸，篩分所得到的粒徑是篩孔尺寸，沉降所得到的是某種沉降特性相同的球形顆粒的直徑等。