過(guò)去，在很多LED生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)中人們常常采用PC機(jī)控制測(cè)試的各個(gè)方面。換句話說(shuō)，在測(cè)試序列的每個(gè)組成部分中，每個(gè)測(cè)試必須對(duì)信號(hào)源和測(cè)試儀器分別配置，執(zhí)行所需的操作，然后將數(shù)據(jù)返回給控制PC?？刂芇C然后進(jìn)行pass/fail判斷并執(zhí)行相應(yīng)的操作對(duì)DUT進(jìn)行分揀。發(fā)送和執(zhí)行的每條命令都浪費(fèi)了寶貴的測(cè)試時(shí)間，降低了產(chǎn)能。顯然，在這類以PC為中心的測(cè)試結(jié)構(gòu)中，大部分測(cè)試序列時(shí)間都被PC和測(cè)試儀器之間的通信所消耗了。

相反，當(dāng)前很多智能儀器，例如2600A系列數(shù)字源表，通過(guò)減少通信總線上的通信量，使得大幅提高復(fù)雜測(cè)試序列的產(chǎn)能成為可能。在這些儀器中，測(cè)試序列的主要部分嵌入在儀器內(nèi)部。測(cè)試腳本處理器(TSP?)是一種全能的測(cè)試序列引擎，能夠利用內(nèi)置的pass/fail判據(jù)、數(shù)學(xué)和計(jì)算公式控制測(cè)試序列和數(shù)字I/O端口。TSP能夠?qū)⒂脩糇远x的測(cè)試序列保存在存儲(chǔ)器中然后根據(jù)命令執(zhí)行它。這樣就限制了測(cè)試序列中每一步的設(shè)置和配置時(shí)間，通過(guò)最大限度減少與PC和儀器的通信而提高了測(cè)試產(chǎn)能。這類儀器的編程過(guò)程相對(duì)簡(jiǎn)單：1)創(chuàng)建腳本;2)將腳本下載到儀器中;3)調(diào)用腳本執(zhí)行。對(duì)于2600A系列儀器，用戶可以利用儀器本身提供的Test script Builder軟件編寫或者下載腳本，或者從用Visual Basic或LabVIEW等語(yǔ)言編寫的用戶應(yīng)用程序中下載到儀器中。

單LED器件測(cè)試系統(tǒng)

圖2是測(cè)試單個(gè)LED的測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)化模塊圖。對(duì)于自動(dòng)化測(cè)試，通常包含一臺(tái)PC和一個(gè)元件機(jī)械手——晶圓級(jí)測(cè)量需要一個(gè)探針臺(tái)。

圖2. 基于數(shù)字源表的單LED測(cè)試系統(tǒng)模塊圖

在這個(gè)測(cè)試結(jié)構(gòu)中，PC機(jī)的主要作用是將測(cè)量數(shù)據(jù)保存在數(shù)據(jù)庫(kù)中用于資料記錄。第二個(gè)作用是針對(duì)不同的部件重新配置測(cè)試序列。2600A系列的獨(dú)特之處在于它們能夠獨(dú)立于PC控制器單獨(dú)工作。每臺(tái)儀器上內(nèi)嵌的TSP支持用戶編寫能夠在儀器本身上執(zhí)行的完整測(cè)試規(guī)劃。換句話說(shuō)，用戶可以編寫完整的PASS/FAIL測(cè)試序列腳本，無(wú)需儀器重編程即可通過(guò)儀器面板運(yùn)行它。
生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)可以利用元件機(jī)械手將單個(gè)LED傳送到測(cè)試夾具上，進(jìn)行電氣接觸。該夾具屏蔽了環(huán)境光，并且安裝了光電探測(cè)器(PD)進(jìn)行光學(xué)測(cè)量。在如圖2所示的配置中，使用了一臺(tái)2602A型雙通道數(shù)字源表實(shí)現(xiàn)兩種連接。其中，源測(cè)量單元A(SMUA)為L(zhǎng)ED提供測(cè)試信號(hào)并測(cè)量其電響應(yīng)，而SMUB在光學(xué)測(cè)量過(guò)程中用于監(jiān)測(cè)光電二極管。

測(cè)試序列在編程開始時(shí)利用元件機(jī)械手的一條數(shù)字線作為“測(cè)試啟動(dòng)(SOT)”信號(hào)。當(dāng)數(shù)字源表檢測(cè)到這個(gè)SOT信號(hào)后，LED特征分析測(cè)試就開始了。

在所有的電氣和光學(xué)測(cè)試都完成之后，系統(tǒng)為元件機(jī)械手設(shè)置一條標(biāo)志“測(cè)量完成”的數(shù)字線。此外，儀器本身的智能功能執(zhí)行所有的pass/fail操作，通過(guò)儀器上的數(shù)字I/O端口向元件機(jī)械手發(fā)送一條數(shù)字命令，根據(jù)pass/fail判據(jù)對(duì)LED進(jìn)行分揀。然后，可以設(shè)定兩個(gè)操作同時(shí)執(zhí)行：將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C進(jìn)行統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制，同時(shí)將一個(gè)新的DUT傳送到測(cè)試夾具上。

多器件/陣列的LED測(cè)試系統(tǒng)

在多器件測(cè)試情況下，例如涉及老化的測(cè)試，我們要在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)同時(shí)測(cè)量多個(gè)部件。驅(qū)動(dòng)DUT通常需要連續(xù)的電流，但是多個(gè)光學(xué)探測(cè)器可以通過(guò)開關(guān)系統(tǒng)復(fù)用一個(gè)電流計(jì)。用戶可以根據(jù)所測(cè)電流的動(dòng)態(tài)量程選擇合適的開關(guān)系統(tǒng)和電流計(jì)。

多LED器件測(cè)試可以選擇多種類型的開關(guān)。例如，3706型開關(guān)/萬(wàn)用表具有6個(gè)開關(guān)模塊插槽，因此它最多可支持576個(gè)復(fù)用通道或者2688個(gè)矩陣交叉點(diǎn)。與2600A系列儀器類似，它也內(nèi)置了板載TSP和TSP-link?設(shè)備間通信/觸發(fā)總線，利用這套總線可以快速而方便地將這些儀器集成到一個(gè)系統(tǒng)中。這種集成支持緊密同步的儀器間操作，并且能夠讓它們?cè)谝粋€(gè)測(cè)試腳本的控制下進(jìn)行操作。圖3給出了具有一個(gè)光電二極管(PD)通道的三LED器件測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。