過去，在很多LED生產(chǎn)測試系統(tǒng)中人們常常采用PC機控制測試的各個方面。換句話說，在測試序列的每個組成部分中，每個測試必須對信號源和測試儀器分別配置，執(zhí)行所需的操作，然后將數(shù)據(jù)返回給控制PC?？刂芇C然后進行pass/fail判斷并執(zhí)行相應的操作對DUT進行分揀。發(fā)送和執(zhí)行的每條命令都浪費了寶貴的測試時間，降低了產(chǎn)能。顯然，在這類以PC為中心的測試結(jié)構(gòu)中，大部分測試序列時間都被PC和測試儀器之間的通信所消耗了。

相反，當前很多智能儀器，例如2600A系列數(shù)字源表，通過減少通信總線上的通信量，使得大幅提高復雜測試序列的產(chǎn)能成為可能。在這些儀器中，測試序列的主要部分嵌入在儀器內(nèi)部。測試腳本處理器(TSP?)是一種全能的測試序列引擎，能夠利用內(nèi)置的pass/fail判據(jù)、數(shù)學和計算公式控制測試序列和數(shù)字I/O端口。TSP能夠?qū)⒂脩糇远x的測試序列保存在存儲器中然后根據(jù)命令執(zhí)行它。這樣就限制了測試序列中每一步的設置和配置時間，通過最大限度減少與PC和儀器的通信而提高了測試產(chǎn)能。這類儀器的編程過程相對簡單：1)創(chuàng)建腳本;2)將腳本下載到儀器中;3)調(diào)用腳本執(zhí)行。對于2600A系列儀器，用戶可以利用儀器本身提供的Test script Builder軟件編寫或者下載腳本，或者從用Visual Basic或LabVIEW等語言編寫的用戶應用程序中下載到儀器中。

單LED器件測試系統(tǒng)

圖2是測試單個LED的測試系統(tǒng)簡化模塊圖。對于自動化測試，通常包含一臺PC和一個元件機械手——晶圓級測量需要一個探針臺。

圖2. 基于數(shù)字源表的單LED測試系統(tǒng)模塊圖

在這個測試結(jié)構(gòu)中，PC機的主要作用是將測量數(shù)據(jù)保存在數(shù)據(jù)庫中用于資料記錄。第二個作用是針對不同的部件重新配置測試序列。2600A系列的獨特之處在于它們能夠獨立于PC控制器單獨工作。每臺儀器上內(nèi)嵌的TSP支持用戶編寫能夠在儀器本身上執(zhí)行的完整測試規(guī)劃。換句話說，用戶可以編寫完整的PASS/FAIL測試序列腳本，無需儀器重編程即可通過儀器面板運行它。
生產(chǎn)測試系統(tǒng)可以利用元件機械手將單個LED傳送到測試夾具上，進行電氣接觸。該夾具屏蔽了環(huán)境光，并且安裝了光電探測器(PD)進行光學測量。在如圖2所示的配置中，使用了一臺2602A型雙通道數(shù)字源表實現(xiàn)兩種連接。其中，源測量單元A(SMUA)為LED提供測試信號并測量其電響應，而SMUB在光學測量過程中用于監(jiān)測光電二極管。

測試序列在編程開始時利用元件機械手的一條數(shù)字線作為“測試啟動(SOT)”信號。當數(shù)字源表檢測到這個SOT信號后，LED特征分析測試就開始了。

在所有的電氣和光學測試都完成之后，系統(tǒng)為元件機械手設置一條標志“測量完成”的數(shù)字線。此外，儀器本身的智能功能執(zhí)行所有的pass/fail操作，通過儀器上的數(shù)字I/O端口向元件機械手發(fā)送一條數(shù)字命令，根據(jù)pass/fail判據(jù)對LED進行分揀。然后，可以設定兩個操作同時執(zhí)行：將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C進行統(tǒng)計過程控制，同時將一個新的DUT傳送到測試夾具上。

多器件/陣列的LED測試系統(tǒng)

在多器件測試情況下，例如涉及老化的測試，我們要在規(guī)定的時間內(nèi)同時測量多個部件。驅(qū)動DUT通常需要連續(xù)的電流，但是多個光學探測器可以通過開關(guān)系統(tǒng)復用一個電流計。用戶可以根據(jù)所測電流的動態(tài)量程選擇合適的開關(guān)系統(tǒng)和電流計。

多LED器件測試可以選擇多種類型的開關(guān)。例如，3706型開關(guān)/萬用表具有6個開關(guān)模塊插槽，因此它最多可支持576個復用通道或者2688個矩陣交叉點。與2600A系列儀器類似，它也內(nèi)置了板載TSP和TSP-link?設備間通信/觸發(fā)總線，利用這套總線可以快速而方便地將這些儀器集成到一個系統(tǒng)中。這種集成支持緊密同步的儀器間操作，并且能夠讓它們在一個測試腳本的控制下進行操作。圖3給出了具有一個光電二極管(PD)通道的三LED器件測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)。