圖3. 采用可擴(kuò)展2602A數(shù)字源表通道構(gòu)建LED陣列測(cè)試系統(tǒng)的模塊圖

最大限度減少LED測(cè)試誤差

LED生產(chǎn)測(cè)試中的常見(jiàn)測(cè)量誤差源包括引線電阻、漏電流、靜電干擾和光干擾，但是結(jié)自熱是最重要的誤差源之一。對(duì)結(jié)發(fā)熱最敏感的兩種測(cè)試是正向電壓測(cè)試和漏電流測(cè)試。當(dāng)半導(dǎo)體結(jié)發(fā)熱時(shí)，電壓將會(huì)下降，更重要的是，在恒壓測(cè)試過(guò)程中漏電流會(huì)增大。因此，在不影響測(cè)量精度或穩(wěn)定性的情況下盡可能縮短測(cè)試時(shí)間是非常重要的。

具有板載測(cè)試腳本引擎的智能儀器能夠簡(jiǎn)化配置測(cè)量前器件的保溫時(shí)間(soak time)以及采集輸入信號(hào)的時(shí)間。在保溫時(shí)間內(nèi)所有的電路電容在測(cè)量開(kāi)始前穩(wěn)定下來(lái)。測(cè)量積分時(shí)間(integration time)取決于電源線周期數(shù)(NPLC)。如果輸入電源是60Hz，那么1NPLC測(cè)量就需要1/60秒，即16.667ms。積分時(shí)間決定了A/D轉(zhuǎn)換器采集輸入信號(hào)的時(shí)間，它要在測(cè)量速度和精度之間進(jìn)行折中。

VF測(cè)試的典型保溫時(shí)間從不到幾百微秒到5毫秒，IL測(cè)試的保溫時(shí)間從5到20毫秒。通過(guò)利用這些極短的測(cè)試時(shí)間，就能夠減少由于結(jié)發(fā)熱導(dǎo)致的誤差。此外，通過(guò)執(zhí)行一系列測(cè)試并只檢驗(yàn)測(cè)試時(shí)間，可以對(duì)結(jié)發(fā)熱的特征進(jìn)行分析。

為了進(jìn)一步縮短測(cè)試時(shí)間，減少結(jié)自熱效應(yīng)，2600A系列儀器支持脈沖操作。在這種模式下，它們能夠在指定的周期內(nèi)在輸出端產(chǎn)生精密的信號(hào)源。1微秒的脈寬分辨率能夠精確控制器件的加電時(shí)間。這類(lèi)儀器在脈沖操作模式下還能夠輸出大大超出其直流能力的電流值。例如，2602A在6V下能夠輸出3A的直流電流。而在脈沖模式下，它能夠在20V下輸出10A的電流。