工程師在執(zhí)行雜散測(cè)量時(shí)通常需要耗費(fèi)大量時(shí)間，同時(shí)還面臨著測(cè)試時(shí)間與測(cè)試范圍之間的折中。利用新的高性能頻譜分析儀功能，Keysight PNA 可以在寬廣的頻率范圍內(nèi)執(zhí)行快速雜散搜索，測(cè)試吞吐量相比現(xiàn)有測(cè)量方法提升 500 倍。測(cè)量結(jié)果可以與當(dāng)前最快、最復(fù)雜的獨(dú)立頻譜或信號(hào)分析儀相提并論。
VNA 還能夠在所有測(cè)試端口上同時(shí)實(shí)施頻譜測(cè)量。這種獨(dú)一無(wú)二、業(yè)界領(lǐng)先的功能使分析儀只需連接一次便可表征混頻器、轉(zhuǎn)換器、放大器、模塊或子系統(tǒng)，從而縮短設(shè)計(jì)周期。例如 LO、RF 和 IF 饋通測(cè)量;諧波測(cè)量;互調(diào)產(chǎn)物測(cè)量;以及其他高階混頻產(chǎn)物測(cè)量。
夾具中和晶圓上測(cè)量也可以從 VNA 校準(zhǔn)和去嵌入(校正接收機(jī)響應(yīng)誤差，消除電纜和夾具影響)中受益――測(cè)試精度將會(huì)明顯改善，從而實(shí)現(xiàn)更小的測(cè)試容限和更苛刻的器件技術(shù)指標(biāo)。
是德科技元器件測(cè)試事業(yè)部 PNA 市場(chǎng)經(jīng)理 Steven Scheppelmann 表示：“在同一臺(tái)儀器中執(zhí)行高性能頻譜和網(wǎng)絡(luò)測(cè)量，可以為您提供無(wú)與倫比的洞察力來(lái)了解被測(cè)器件的特性。此創(chuàng)新還可以取代開(kāi)關(guān)矩陣和獨(dú)立的頻譜分析儀，進(jìn)而滿(mǎn)足日益重要的、減小元器件表征測(cè)試系統(tǒng)體積的需求。
VNA 還能夠在所有測(cè)試端口上同時(shí)實(shí)施頻譜測(cè)量。這種獨(dú)一無(wú)二、業(yè)界領(lǐng)先的功能使分析儀只需連接一次便可表征混頻器、轉(zhuǎn)換器、放大器、模塊或子系統(tǒng)，從而縮短設(shè)計(jì)周期。例如 LO、RF 和 IF 饋通測(cè)量;諧波測(cè)量;互調(diào)產(chǎn)物測(cè)量;以及其他高階混頻產(chǎn)物測(cè)量。
夾具中和晶圓上測(cè)量也可以從 VNA 校準(zhǔn)和去嵌入(校正接收機(jī)響應(yīng)誤差，消除電纜和夾具影響)中受益――測(cè)試精度將會(huì)明顯改善，從而實(shí)現(xiàn)更小的測(cè)試容限和更苛刻的器件技術(shù)指標(biāo)。
是德科技元器件測(cè)試事業(yè)部 PNA 市場(chǎng)經(jīng)理 Steven Scheppelmann 表示：“在同一臺(tái)儀器中執(zhí)行高性能頻譜和網(wǎng)絡(luò)測(cè)量，可以為您提供無(wú)與倫比的洞察力來(lái)了解被測(cè)器件的特性。此創(chuàng)新還可以取代開(kāi)關(guān)矩陣和獨(dú)立的頻譜分析儀，進(jìn)而滿(mǎn)足日益重要的、減小元器件表征測(cè)試系統(tǒng)體積的需求。
