3月28日，IC PARK公共測試服務(wù)平臺芯片測試聯(lián)合實驗室暨北京季峰開業(yè)儀式在中關(guān)村集成電路設(shè)計園（以下簡稱“IC PARK”）隆重舉行。北京市科委、中關(guān)村科技園區(qū)管委會副主任張宇蕾，中關(guān)村科學城管委會專職副主任何建吾，北京市發(fā)改委、經(jīng)信局以及中關(guān)村科學城管委會相關(guān)負責同志；中關(guān)村發(fā)展集團總經(jīng)理助理楊楠，首創(chuàng)置業(yè)黨委委員張海濱，京內(nèi)外集成電路相關(guān)企業(yè)、合作機構(gòu)代表共100余人出席開業(yè)儀式。

揭牌運營

布局專業(yè)化芯片測試聯(lián)合實驗室

開業(yè)儀式現(xiàn)場

落實國家創(chuàng)新驅(qū)動發(fā)展戰(zhàn)略，加快培育新質(zhì)生產(chǎn)力。習近平總書記在全國“兩會”參加地方代表團審議時強調(diào)，“要牢牢把握高質(zhì)量發(fā)展這個首要任務(wù)，因地制宜發(fā)展新質(zhì)生產(chǎn)力”。張宇蕾指出，近年來北京市不斷推進科技創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新深度融合，培育和壯大新質(zhì)生產(chǎn)力，加快塑造高質(zhì)量發(fā)展新動能新優(yōu)勢，在推動國際科技創(chuàng)新中心和世界領(lǐng)先科技園區(qū)建設(shè)等方面取得顯著成效。她強調(diào)，此次公共測試服務(wù)平臺芯片測試聯(lián)合實驗室的成立，是落實國家創(chuàng)新驅(qū)動發(fā)展戰(zhàn)略、培育北京新質(zhì)生產(chǎn)力、推動集成電路產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的有力舉措。市科委、中關(guān)村管委會將持續(xù)加大專業(yè)共性技術(shù)平臺支持力度，推動北京集成電路產(chǎn)業(yè)向更高層次邁進。

增強原始創(chuàng)新策源功能，加快建設(shè)世界領(lǐng)先科技園區(qū)。海淀區(qū)高度重視集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展，充分發(fā)揮區(qū)域科技資源和人才智力優(yōu)勢，出臺集成電路研發(fā)補貼、流片補貼等政策支持IC PARK加速產(chǎn)業(yè)集聚，加快建設(shè)世界領(lǐng)先科技園區(qū)。何建吾指出，IC PARK與北京季峰聯(lián)合建立的公共測試服務(wù)平臺芯片測試聯(lián)合實驗室，有效提升了海淀區(qū)以及北京市在芯片失效分析測試領(lǐng)域的專業(yè)化服務(wù)能力，對破解芯片檢驗測試共性技術(shù)難題，促進海淀以及北京集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展具有重要意義。他表示，海淀區(qū)2024年初發(fā)布了支持高質(zhì)量發(fā)展首批五項政策，從平臺服務(wù)、人才、資金等多維度助力企業(yè)發(fā)展，下一步還將通過“揭榜掛帥”等形式支持企業(yè)不斷加大研發(fā)投入，培育更多龍頭企業(yè)和潛力企業(yè)。

做強共性技術(shù)服務(wù)平臺，持續(xù)提升北京產(chǎn)業(yè)競爭力。IC PARK共性技術(shù)服務(wù)中心建設(shè)得到了市科委、中關(guān)村管委會的大力支持，被列為北京市建設(shè)世界領(lǐng)先高品質(zhì)園區(qū)重點支持的公共測試服務(wù)平臺。IC PARK董事長儲鑫指出，此次開業(yè)的公共測試服務(wù)平臺芯片測試聯(lián)合實驗室是IC PARK共性技術(shù)服務(wù)中心由線上向線下布局的重要里程碑工程。聯(lián)合實驗室擁有研磨機、激光開封機、X-ray、DB、FIB、離子減薄機等相關(guān)設(shè)備，具備ESD、失效分析等測試能力。目前，園區(qū)內(nèi)線下專業(yè)第三方實驗室已經(jīng)達到1100平米，芯片檢驗檢測認證、模板模組檢驗檢測認證等方面的服務(wù)能力處于北京乃至中國北方地區(qū)領(lǐng)先地位，可為園內(nèi)外企業(yè)提供更加全面、專業(yè)、精準、便捷以及安全的檢驗檢測服務(wù)。

隨著實驗室業(yè)務(wù)的逐步推進，IC PARK共性技術(shù)服務(wù)中心正在由專注于芯片、模組檢驗檢測認證等業(yè)務(wù)，向包括儀器儀表、先進封裝、設(shè)備耗材等多領(lǐng)域延伸，服務(wù)模式也由線上為主轉(zhuǎn)變?yōu)榫€上線下并重的模式。IC PARK將持續(xù)整合服務(wù)創(chuàng)新資源，為企業(yè)提供“空間+投資+服務(wù)”的系統(tǒng)化集成服務(wù)，為北京芯片產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新發(fā)展提供有力支撐。

季豐電子董事長鄭朝暉表示，北京芯片檢測聯(lián)合實驗室配備了國內(nèi)領(lǐng)先的測試設(shè)備，經(jīng)驗豐富的測試工程師和管理團隊，能夠為客戶提供精準、高效的測試服務(wù)。下一步，結(jié)合京內(nèi)外集成電路企業(yè)測試需求，將與IC PARK加強合作，布局更多測試服務(wù)能力。

公共測試服務(wù)平臺芯片測試聯(lián)合實驗室揭牌

在參會領(lǐng)導(dǎo)和嘉賓的共同見證下，IC PARK董事長儲鑫、季豐電子董事長鄭朝暉為公共測試服務(wù)平臺芯片測試聯(lián)合實驗室揭牌，標志著聯(lián)合實驗室正式啟動運營。

公共測試服務(wù)平臺芯片測試聯(lián)合實驗室、季豐電子研討會北京站

IC PARK公共測試服務(wù)平臺芯片測試聯(lián)合實驗室、季豐電子研討會北京站同期舉行，會議圍繞車規(guī)級芯片ESD測試、車規(guī)產(chǎn)品對可靠性實驗和量產(chǎn)測試的要求、芯片測試硬件技術(shù)以及創(chuàng)新的芯片可靠性測試方案等熱點問題展開了深入研討和交流。