為了捕捉傳輸?shù)?/span> FPGA、ASIC、DDC 或其他跟隨 ADC 的邏輯器件的輸出數(shù)據(jù)，用戶必須要知道輸出數(shù)據(jù)的窗口是穩(wěn)定的。不過，重點是大多數(shù)廠商均致力于提供一致且完善的產(chǎn)品說明書限制。這是因為用于生產(chǎn)的最終測試結果受一些因素的影響，例如自動測試設備的精度、不能直接訪問輸出端(數(shù)據(jù)正在緩沖中)、很難像產(chǎn)品說明書一樣設置相同的條件(例如數(shù)字負載)等等。為了克服這些局限性，TI 通過設計與特征化(即用統(tǒng)計方法來設置這些參數(shù))，當生產(chǎn)中不對設備進行測試時，這能促使我們設置更寬的防護頻帶。而如果將相同的限制條件用于其他廠商的話，經(jīng)常會導致不完善或不精確的產(chǎn)品說明書。

設計人員應對沒有任何質(zhì)保書的器件、有質(zhì)保書但是條件不切實際的器件(例如 0-pF 負載)、沒有明確用于捕獲數(shù)據(jù)所需的參數(shù)的器件(例如，給出了建立時間但沒有給出保持時間)、沒有說明規(guī)范所使用的 VOH 和 VOL電平的器件(例如，給出從 50% 到 50% 的信息，但是要推導出 VIH/VIL 邏輯電平卻很麻煩)、或者沒有說明對整個工作溫度范圍內(nèi)詳細參數(shù)的器件進行明確的詢問。

此外，為了改進數(shù)據(jù)捕獲窗口，TI 與其他廠商均提供了一款輸出時鐘，與輸入時鐘相比該時鐘能夠更好地跟蹤輸出數(shù)據(jù)。使用輸出時鐘可以減小應用中的時序局限。