現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試
現(xiàn)場(chǎng)(SAT)測(cè)試需要驗(yàn)證所有設(shè)備功能、回路的正確性。智能變電站二次系統(tǒng)投產(chǎn)試驗(yàn)與常規(guī)綜自系統(tǒng)類似，需要進(jìn)行完整的保護(hù)整定值校驗(yàn)、聯(lián)動(dòng)試驗(yàn)等。因此，必須從交流電源的輸入端施加激勵(lì)量，驗(yàn)證一、二次聯(lián)接正確性，確定保護(hù)整定值，并最終進(jìn)行斷路器跳合閘試驗(yàn)。智能變電站現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試所采用的測(cè)試方法與常規(guī)綜自無異，需要在就地柜施加測(cè)試激勵(lì)。
運(yùn)維測(cè)試
運(yùn)維試驗(yàn)與投產(chǎn)試驗(yàn)?zāi)繕?biāo)具有很大的差異性，主要是驗(yàn)證二次系統(tǒng)是否維持原來的正確性。智能變電站保護(hù)系統(tǒng)所采用的保護(hù)裝置從其實(shí)現(xiàn)機(jī)理上分析，只要軟件版本不變，保護(hù)動(dòng)作特征不會(huì)改變，運(yùn)維測(cè)試主要是驗(yàn)證聯(lián)接環(huán)節(jié)的健康狀況及保護(hù)系統(tǒng)的可用率。因此，需要研究在不改變現(xiàn)場(chǎng)接線、不更改現(xiàn)場(chǎng)通信配置的情況下，完成運(yùn)維測(cè)試的可行性。如在工程設(shè)計(jì)階段預(yù)先考慮好運(yùn)維測(cè)試接口，在SCD文件和IED模型中預(yù)留測(cè)試模型，在現(xiàn)場(chǎng)網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)中預(yù)留測(cè)試通道，運(yùn)維過程中實(shí)現(xiàn)測(cè)試和運(yùn)行狀態(tài)的切換以及確保運(yùn)維測(cè)試的安全性等。
IEC61850標(biāo)準(zhǔn)TEST模式
TEST所涉及的信息模型
IEC 61850標(biāo)準(zhǔn)具有TEST模式，對(duì)智能變電站中的IED進(jìn)行檢修、測(cè)試，將涉及到如下模型信息：①LLN0的Mod/Beh。其中，Mod用于切換裝置的Test(Test-Blocked)/ON狀態(tài);Beh用于讀取裝置的Test/ON狀態(tài)。
現(xiàn)場(chǎng)(SAT)測(cè)試需要驗(yàn)證所有設(shè)備功能、回路的正確性。智能變電站二次系統(tǒng)投產(chǎn)試驗(yàn)與常規(guī)綜自系統(tǒng)類似，需要進(jìn)行完整的保護(hù)整定值校驗(yàn)、聯(lián)動(dòng)試驗(yàn)等。因此，必須從交流電源的輸入端施加激勵(lì)量，驗(yàn)證一、二次聯(lián)接正確性，確定保護(hù)整定值，并最終進(jìn)行斷路器跳合閘試驗(yàn)。智能變電站現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試所采用的測(cè)試方法與常規(guī)綜自無異，需要在就地柜施加測(cè)試激勵(lì)。
運(yùn)維測(cè)試
運(yùn)維試驗(yàn)與投產(chǎn)試驗(yàn)?zāi)繕?biāo)具有很大的差異性，主要是驗(yàn)證二次系統(tǒng)是否維持原來的正確性。智能變電站保護(hù)系統(tǒng)所采用的保護(hù)裝置從其實(shí)現(xiàn)機(jī)理上分析，只要軟件版本不變，保護(hù)動(dòng)作特征不會(huì)改變，運(yùn)維測(cè)試主要是驗(yàn)證聯(lián)接環(huán)節(jié)的健康狀況及保護(hù)系統(tǒng)的可用率。因此，需要研究在不改變現(xiàn)場(chǎng)接線、不更改現(xiàn)場(chǎng)通信配置的情況下，完成運(yùn)維測(cè)試的可行性。如在工程設(shè)計(jì)階段預(yù)先考慮好運(yùn)維測(cè)試接口，在SCD文件和IED模型中預(yù)留測(cè)試模型，在現(xiàn)場(chǎng)網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)中預(yù)留測(cè)試通道，運(yùn)維過程中實(shí)現(xiàn)測(cè)試和運(yùn)行狀態(tài)的切換以及確保運(yùn)維測(cè)試的安全性等。
IEC61850標(biāo)準(zhǔn)TEST模式
TEST所涉及的信息模型
IEC 61850標(biāo)準(zhǔn)具有TEST模式，對(duì)智能變電站中的IED進(jìn)行檢修、測(cè)試，將涉及到如下模型信息：①LLN0的Mod/Beh。其中，Mod用于切換裝置的Test(Test-Blocked)/ON狀態(tài);Beh用于讀取裝置的Test/ON狀態(tài)。
