EMI預兼容測試選件

幾乎任何用于銷售電子產品都需進行電磁兼容性（EMC）測試，必須確保產品符合監(jiān)管機構規(guī)定的規(guī)格標準。

EMC測試必要性

聯(lián)邦通信委員會（FCC）規(guī)定了電磁兼容性測試的規(guī)則。CISPR和IEC測試定義也在全球范圍內被廣泛使用。全面的合規(guī)性測試可能很昂貴，對產品進行全面合規(guī)性測試還需要專門的測試環(huán)境。如果在合規(guī)性測試中發(fā)現(xiàn)任何問題，設計人員需要回到工程部門進行分析和可能的重新設計。這可能會導致產品發(fā)布延遲和設計成本明顯增加。

EMI預兼容測試方案

作為EMC測試的一部分，EMI測試在產品設計早期階段的介入是必要的。

以OWON的方案為例，主要由

1、OWON全系列頻譜分析儀

2、EMI選件

3、ORF5060近場探頭

提供了快速預兼容測試系統(tǒng)方案。通過近場測量可以很方便的進行定性的診斷測量，發(fā)現(xiàn)電磁輻射大的區(qū)域，對潛在的問題進行定位。

1. OWON頻譜分析儀

OWON全系列頻譜儀具有便捷的操作界面和簡潔的顯示風格，采用成熟的數字中頻技術，最小分辨率帶寬(RBW)低至 1Hz，標配前置放大器，顯示平均噪聲電平(DANL)達-161 dBm/Hz，具備微小信號測量能力，全幅度精度<0.7 dB，測量結果精確可信。

2. EMI預兼容測試軟件

OWON頻譜分析儀可通過儀器升級獲得

EMI預兼容測試軟件?。?！

EMI模式包含掃描、測量、計量三個流程，可以靈活配置流程。EMI測量模式提供了完整的CISPR限值和檢波器，包括準峰值、峰值、有效值平均。工程師可加載EMI 國際標準法規(guī)限制線，用戶也可以自定義限制線。還可以使用標準EMI分辨率帶寬(200 Hz、9 kHz、120 kHz和1 MHz)。

EMI 濾波器仍是準高斯形狀，只是其脈沖帶寬定義為-6dB，相比于傳統(tǒng)的高斯濾波器具有更好的頻率選擇性。準峰值檢波是一種快速充電，慢速放電的檢波器，時間加權的檢波方式，它將時間上間斷出現(xiàn)的干擾信號進行幅度的加權平均作為結果顯示。

這樣即使幅度很大但是出現(xiàn)概率很低的干擾信號可能得到較低的準峰值檢波結果，而幅度很小但是出現(xiàn)概率很高的干擾信號也有可能得到較高的準峰值檢波結果，這種加權比較適合電子設備對干擾信號的反應。但是準峰值檢波的平均過程測試時間長，并不利于日常的診斷。

因此在進行 EMI 預兼容測試時，可以先用峰值檢波快速發(fā)現(xiàn) EMI 問題頻點，然后針對這些峰值點專門進行準峰值測量，以節(jié)省測試時間。

（EMI界面）

（內置國際標準法規(guī)限制線）

選擇EMI模式可在儀器上通過觸摸屏、鼠標和鍵盤進行操作。這使報告存檔、掃描運行以及跳轉到感興趣的信號并立即調試變得容易。右側條形顯示給定頻率的實時測量值。此程序可在掃描后快速移動到感興趣的信號，它可以在頻率上實時測量最多3個檢波器的數據，為調試和進一步分析提供便捷。

3.ORF近場探頭