對于輻射發(fā)射，使用近場磁性（H場）探頭拾取通過探頭末端小環(huán)路傳播的發(fā)射。這些磁性探頭只能捕獲探頭附近的信號，因此被稱為“近場”探頭。這使得它們非常適合基本的可視化，因此工程師可以通過將探頭掃過區(qū)域快速掃描新的電路板或外殼來查找問題。較大的探頭雖能提升掃描速度，但相應(yīng)的空間分辨率會有所降低。
在此過程中，探頭充當(dāng)天線角色，負(fù)責(zé)捕獲接縫、開口、引腳及其他可能產(chǎn)生RF輻射的元件所釋放的信號。為確保測試的全面性，對所有電路元件、連接器、旋鈕、箱體開口及接縫的徹底掃描是不可或缺的。通常對于此類EMI可視化測試，無需使用屏蔽室或屏蔽裝置，因為探頭主要記錄的是極為接近的信號。工程師可通過調(diào)整探頭的方向及位置，來識別發(fā)射源。
（天線補(bǔ)償參數(shù)）
內(nèi)置針對天線，LISN，電纜的頻響補(bǔ)償，可選擇對應(yīng)的天線，用戶也可自定義頻響補(bǔ)償。通過OWON的EMI方案可以簡便快速預(yù)兼容測試，這會最大限度地減少產(chǎn)品開發(fā)時間，降低設(shè)計成本。
ORF5060 近場探頭
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