同惠TH510系列半導體C-V特性分析儀采用了獨特的硬件測試方法，可及時發(fā)現(xiàn)接觸不良故障，出現(xiàn)故障之后自動停止測試并在測試界面提供接觸不良點提示。

保障了結果的準確性，同時利于客戶及時發(fā)現(xiàn)問題，避免了不良品率提高及故障品退回等帶來的損失。

獨創(chuàng)的快速通斷測試（OP_SH），排除損壞器件

在半導體器件特性測試時，由于半器件本身是損壞件，特別是多芯器件其中一個芯已經損壞的情況下，測試雜散電容仍有可能被為合格，而半導體器件的導通特性才是最重要的特性。

因此，對于本身導通特性不良的產品進行C-V特性測試是完全沒有必要的，不僅僅浪費了測量時間，同時會由于C-V合格而混雜在良品里，導致成品出貨后被退回帶來損失。

TH510系列半導體C-V特性分析儀提供了快速通斷測試（OP_SH）功能，可用于直接判斷器件本身導通性能。

獨創(chuàng)模組式器件設置，支持定制

針對模組式器件如雙路（Dual）MOSFET、多組式IGBT，有些器件會有不同類型芯片混合式封裝；TH510系列CV特性分析儀針對此情況做了優(yōu)化，常見模組式芯片Demo已內置，特殊芯片支持定制。

“攜手同心，惠及未來”，從1994年開始，同惠電子始終堅持29年如一日，全心全意做產品，從品質入手，潛心研發(fā)電子測量儀器，聽取大家的反饋，不斷改進。做儀器，我們是認真的！