Ceyear 6433系列光波元件分析儀產(chǎn)品集成了電電測試、電光測試、光電測試、光光測試4種測試模式，具有對數(shù)幅度、線性幅度、相位、群時延、Smith圓圖、極坐標(biāo)等多種顯示格式，配置USB、LAN、GPIB、VGA等多種標(biāo)準(zhǔn)接口，能夠精確測量光電網(wǎng)絡(luò)的幅頻特性、相頻特性和群時延特性。
圖1 6433系列光波元件分析儀
產(chǎn)品包括6433D（10MHz～20GHz）、6433F（10MHz～43.5GHz）、6433H（10MHz～50GHz）、6433L（10MHz～67GHz）4個產(chǎn)品型號，分為雙端口和四端口兩種機(jī)型，主要應(yīng)用于高速寬頻電光器件（電光調(diào)制器、直調(diào)激光器、TOSA）、光電器件（PD、PIN、APD、ROSA）、光光器件（光衰減器、EDFA）的頻響參數(shù)測試，是光芯片、光器件、光收發(fā)組件、光電儀器、光通信系統(tǒng)等科研、生產(chǎn)及計量過程中高效的測試設(shè)備。
（1）一體化多功能測試向?qū)Ы缑?/strong>
6433系列光波元件分析儀具備電電、電光、光電、光光四種測量模式，功能模式之間可任意切換，滿足了目前絕大多數(shù)通用器件的S參數(shù)、阻抗、時域等參數(shù)測量需求。集成式的參數(shù)設(shè)置方便用戶快速完成光波參數(shù)、光路去嵌入?yún)?shù)、射頻去嵌入?yún)?shù)的設(shè)置及一鍵測試。
圖2一體化多功能測試界面
（2）一鍵式電光/光電/光光器件快速掃頻測試
6433系列光波元件分析儀采用微波模塊、光波模塊一體化集成設(shè)計方案，構(gòu)建高精度光電網(wǎng)絡(luò)誤差模型，利用核心校準(zhǔn)算法，實現(xiàn)電光/光電/光光器件一鍵式寬帶快速掃頻測試。針對電光調(diào)制器、直接調(diào)制激光器等電光器件的S11參數(shù)和S21參數(shù)測試，利用多窗口顯示可快速獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性；針對光電探測器、ROSA、TIA集成組件等光電器件的S22參數(shù)和S21參數(shù)測試，利用光標(biāo)功能可快速分析3dB帶寬，評估器件的頻響特性；針對光纖濾波器等光光器件的S21參數(shù)測試，可快速實現(xiàn)損耗、平坦度等指標(biāo)的測量。
圖3光電器件S21參數(shù)及S22參數(shù)曲線
圖4電光器件相位曲線
（3）平衡光電/電光器件測試
6433系列光波元件分析儀可通過選配四端口機(jī)型，實現(xiàn)平衡光發(fā)射或光接收器件對差分增益和共模抑制參數(shù)的測試需求，更加貼合現(xiàn)有和未來高速光纖通信領(lǐng)域中多端口參數(shù)的測量場合。
圖5平衡ROSA器件連接示意圖及混合模S參數(shù)示意圖
圖6平衡ROSA測試示意圖
（4）校準(zhǔn)類型及校準(zhǔn)件靈活可選
6433系列光波元件分析儀提供向?qū)?zhǔn)、非向?qū)?zhǔn)、電校準(zhǔn)等多種校準(zhǔn)類型，可根據(jù)實際測試需要選擇同軸機(jī)械校準(zhǔn)件或電子校準(zhǔn)件等多種校準(zhǔn)件，方便不同接口類型器件的測試。
圖7機(jī)械校準(zhǔn)件及電子校準(zhǔn)件
（5）多窗口快速顯示及分析
6433系列光波元件分析儀最多支持64個測量通道，32個測量窗口，每個窗口最多可同時顯示16條測試軌跡，可實現(xiàn)結(jié)果的多窗口、多格式顯示；高分辨率多點觸控電容屏可快速實現(xiàn)各種輸入和選擇操作，快捷高效，便于用戶快速分析數(shù)據(jù)，為用戶提供全新的光波元件分析儀使用體驗。
圖8多窗口快速顯示及分析
