在自動化測試系統(tǒng)中使用獨立儀器時，我們必須考慮 2 個主要變量：儀器之間相異的處理器速度，與連接所有儀器的總線速度。許多系統(tǒng)均以目前最常見的 GPIB 界面為架構(gòu)。而模塊化儀器是以 PCI 背板為架構(gòu)，可提升現(xiàn)有系統(tǒng)的傳輸率，且若必須提升系統(tǒng)以因應未來的需求，僅需購買配備最新處理器的 PXI 控制器，即可完成系統(tǒng)升級。

 解決 PXI 的移植難題

 要將系統(tǒng)移植到 PXI 平臺，必須解決多個難題，包含受測裝置的連結(jié)作業(yè)。若透過 4 組獨立示波器，我們可針對單一受測裝置，同步連接并中斷所有通道。而大多數(shù)的獨立示波器，均具備 1 組 50 Ω 與 1 組高阻抗 (1 MΩ) 的端點。

 而雙通道示波器的難題在于，受測裝置每次僅能中斷 2 組高阻抗或 50歐姆的訊號，而裝置上的其他訊號只能處于不受中斷的狀態(tài)。此平臺需要連結(jié)功能的解決方案，以低電容負載進行高頻寬的量測 – 此特性往往與獨立高速示波器 (Oscilloscope) 的主動式探針 (Active probe) 相關(guān)，而示波器 (Digitizer) 均未提供此功能。

 系統(tǒng)整合了由高阻抗啟動的主動式探針與探針電源供應器，不需降低輸入或輸出的負載，即可針對受測裝置進行取樣，并適時關(guān)閉所有通道。在此產(chǎn)業(yè)中，大多數(shù)半導體產(chǎn)品均可透過此方式檢驗 AC 的時序特性。而 PXI 架構(gòu)的模塊化功能，可讓我們因應持續(xù)提升的半導體效能與速度，并可迅速修改測試平臺以滿足多變的量測需求。

 此外，我們針對儀器所建立的軟件界面，可讓工程師迅速熟悉并使用相關(guān)功能。我們同時導入 Systems Integration Plus Inc. (SPI Inc.)的服務而解決相關(guān)難題；SPI 公司屬于 NI 聯(lián)盟伙伴 (Alliance Partner) 的成員之一，位于亞利桑納州的 Scottsdale。該公司亦開發(fā)LabVIEW VI 或使用者界面中的子常式 (Subroutine)，以進行測試作業(yè)。

 大多數(shù)的測試工程師，均期待能夠旋轉(zhuǎn)示波器上的旋鈕。而虛擬儀控平臺的示波器差異在于，所有旋鈕僅需輕點鼠標即可動作。大多數(shù)的 PXI 儀器制造商均提供軟件人機界面，借以重現(xiàn)獨立儀器上的硬件前端。而我們使用 LabVIEW VI 替代了此想法，并讓我們針對應用，客制化使用者界面與量測常式。透過此方式，我們新一代的測試平臺可將系統(tǒng)負載降至最低，并縮短熟悉界面所需的時間。

 設立檢驗測試作業(yè)的新設計標準

 PXI 平臺為半導體設計的檢驗作業(yè)設立的新標準，并突破了先前測試方式的諸多限制。透過 NI PXI 技術(shù)為架構(gòu)的新平臺，我們不僅保有量測的效能與精確度，并降低 3 倍的成本達到 10 倍的半導體檢驗速率。我們亦減少了測試系統(tǒng)的 PCB 腳位數(shù)量，可省下更多的空間。歸功于模塊化的 PXI 架構(gòu)儀器，我們現(xiàn)在可獲得更高的效能。針對半導體檢驗作業(yè)常見的 AC 效能參數(shù)，PXI 可進行更精確的量測作業(yè)。