圖2
從圖2與圖1的對(duì)比不難發(fā)現(xiàn)，一般電源的電壓上升/下降時(shí)間慢，達(dá)不到測(cè)試要求波形。而艾德克斯可編程直流電源的電壓上升時(shí)間可達(dá)到<10ms的級(jí)別，可應(yīng)用于航天航空領(lǐng)域的各項(xiàng)精密測(cè)試。 老化測(cè)試
對(duì)于任何電子設(shè)備來(lái)說(shuō)，老化測(cè)試都是必不可少的，對(duì)于航天航空領(lǐng)域的用電設(shè)備來(lái)說(shuō)更是如此，因?yàn)橐恍╋w行器、航天器通常需要在大氣層內(nèi)或太空中運(yùn)行很長(zhǎng)時(shí)間，所以用電設(shè)備的老化測(cè)試在航天航空領(lǐng)域也是一項(xiàng)非常重要的測(cè)試內(nèi)容。在老化測(cè)試中，直流電源的主要作用是長(zhǎng)時(shí)間不間斷的給待測(cè)設(shè)備供電，由此可見(jiàn)，長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行的能力是作為老化電源的必備因素。如圖3所示的是DC-DC電源模塊的老化示意圖。
圖3
