國內精密測量儀器領軍企業(yè)優(yōu)可測今日正式發(fā)布旗艦產品 AM8000 白光干涉儀。該設備采用專利光學系統(tǒng)和智能算法，實現(xiàn)小于 1 納米的表面形貌測量精度，標志著中國在高端光學測量領域取得重大突破。
"我們通過氣浮緩沖和低重心設計，使設備對環(huán)境振動敏感度降低 80%。" 優(yōu)可測技術總監(jiān)透露。目前該產品已獲得 TS16949 汽車行業(yè)認證，成功應用于寧德時代電池箔檢測、華為芯片封裝形貌分析等項目，單臺設備年檢測量可達 50 萬件以上。
"我們通過氣浮緩沖和低重心設計，使設備對環(huán)境振動敏感度降低 80%。" 優(yōu)可測技術總監(jiān)透露。目前該產品已獲得 TS16949 汽車行業(yè)認證，成功應用于寧德時代電池箔檢測、華為芯片封裝形貌分析等項目，單臺設備年檢測量可達 50 萬件以上。
