在電子產(chǎn)品測(cè)試領(lǐng)域，由于測(cè)試程序不當(dāng)，而導(dǎo)致的產(chǎn)品召回以及返工，會(huì)帶來(lái)難以承受的損失。那么如何在實(shí)驗(yàn)室產(chǎn)品測(cè)試環(huán)節(jié)保證產(chǎn)品進(jìn)行全面的溫度監(jiān)控，及時(shí)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)缺陷，從而避免由測(cè)試程序不當(dāng)而帶來(lái)的巨大損失呢？
答案在這里：熱像儀是一種非接觸的測(cè)溫儀器，通過(guò)對(duì)物體表面的熱（溫度）分布成像與分析，能夠快速發(fā)現(xiàn)物體的熱缺陷。用在電子行業(yè)，可以廣泛應(yīng)用于檢測(cè)PCB電路板、芯片、LED、新能源電池與節(jié)能、充電樁等各種電路和設(shè)備，是電子工程師做熱分析的必備工具。
FLIR Axxx系列科研套件
今天小菲給大家推薦一款電子元器件研究專(zhuān)用熱像儀——FLIR Axxx系列紅外熱像儀科研套件，其可以簡(jiǎn)化溫度測(cè)量工作，可為電子、航空航天、生命科學(xué)等廣泛應(yīng)用領(lǐng)域的研究人員和工程師提供極大的便利，近期該系列科研套件新增FLIR A500紅外熱像儀科研套件，以讓用戶(hù)擁有更多的選擇。
出色分辨率，精準(zhǔn)定位故障
PCB板上元件眾多，如果有短路、擊穿、焊接不良等故障，排查和定位需要豐富的經(jīng)驗(yàn)，同時(shí)耗時(shí)較多。借助紅外熱像儀，維修人員可以將故障電路板的熱像圖和正常熱像圖比對(duì)，定位溫度異常的元器件，再有針對(duì)性的測(cè)試，可顯著提高工作效率。
FLIR Axxx系列紅外熱像儀科研套件主要在紅外熱像儀分辨率上略有不同，其中FLIR A400的分辨率為320240，A500的分辨率為464x348，A700的分辨率為640480，搭配出色的測(cè)量精度（＜±2℃）和<30mK至<50mK的熱靈敏度（因鏡頭而異），可準(zhǔn)確檢測(cè)出細(xì)小溫差，精準(zhǔn)定位電子元器件的故障點(diǎn)。
標(biāo)準(zhǔn)套件：滿(mǎn)足基本科研需求
當(dāng)電子系統(tǒng)發(fā)生故障時(shí)，需要合適的工具來(lái)快速識(shí)別故障或短路。非接觸式熱成像可以幫助您直觀地定位問(wèn)題區(qū)域，以加快故障排除和驗(yàn)證維修的速度。
標(biāo)準(zhǔn)套件以FLIR Axxx系列紅外圖像流熱像儀為基礎(chǔ)，標(biāo)配24°鏡頭，或者搭配FLIR FlexView雙視場(chǎng)鏡頭，可實(shí)現(xiàn)“1個(gè)鏡頭2種視場(chǎng)角”，瞬間從廣域視場(chǎng)切換到長(zhǎng)焦視場(chǎng)，而無(wú)需更換鏡頭，提高研發(fā)檢測(cè)的效率。其支持FLIR微距模式，能看清大部分元器件的狀況，可輕松滿(mǎn)足多數(shù)研究和開(kāi)發(fā)應(yīng)用的需要。
專(zhuān)業(yè)套件：看清更小的目標(biāo)
隨著元件體積的不斷縮小，面臨的發(fā)熱問(wèn)題急劇增加。設(shè)想一下，從尺寸約為9”×13”的VXI電路板至智能手機(jī)僅幾百微米的單個(gè)元件，普通的熱像儀也許很難分辨其細(xì)小的溫差，幸好FLIR Axxx系列專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)了更精密的專(zhuān)業(yè)套件！
FLIR Axxx系列紅外熱像儀專(zhuān)業(yè)套件搭配可見(jiàn)光鏡頭，支持MSX®（專(zhuān)利號(hào)：201380073584.9）圖像增強(qiáng)功能，可更清晰地辨別測(cè)試目標(biāo)組件。其還提供2倍變焦微距鏡頭，在卸下標(biāo)準(zhǔn)24°鏡頭之后安裝，最小對(duì)焦距離為18mm，可精準(zhǔn)測(cè)得小型組件紅外數(shù)據(jù)。
FLIR Axxx系列紅外熱像儀科研套件讓用戶(hù)可以使用FLIR Research Studio軟件簡(jiǎn)單的“連接?查看?記錄?分析”工作流程，為研發(fā)場(chǎng)景快速獲取和分析紅外測(cè)量結(jié)果。
FLIR Axxx系列紅外熱像儀科研套件可為電子元器件的研發(fā)和維檢提供解決方案，其能精準(zhǔn)記錄研究過(guò)程的溫度測(cè)量結(jié)果，標(biāo)準(zhǔn)和專(zhuān)業(yè)兩種套件，滿(mǎn)足了眾多用戶(hù)的個(gè)性化需求。
