等待：等待預先設置的觸發(fā)信號到來，然后執(zhí)行該條目

事件跳轉：自定義跳轉條件和跳轉設置

跳轉：指定該條目執(zhí)行完畢之后跳轉的條目

循環(huán)：該條目循環(huán)執(zhí)行，可自定義循環(huán)次數(shù)

智能化的測試模式切換

1、DG70000的高級序列技術支持外部信號動態(tài)跳轉功能，動態(tài)跳轉表格長度可達8位，用戶可以根據(jù)外部端口輸入的數(shù)字信號對波形的輸出進行控制。當儀器識別到外部輸入的數(shù)字信號時，馬上跳轉進入到指定的條目內容。

2、高級序列條目的元素為波形，波形輸出時會同步輸出兩路Marker信號，用作波形的標記。它同時可以作為外部信號的參考信號，進行觸發(fā)響應，能夠滿足用戶復雜的測試需求。

Part.3 高級序列的行業(yè)應用場景

量子通信領域

隨著量子通信領域的不斷發(fā)展，比特位數(shù)的不斷提升，對測試測量行業(yè)提出了更高的要求。在量子計算中，需要儀器輸出定制波形。然而一般的波形發(fā)生器只能輸出規(guī)則波形，無法進行特殊波形的逐點輸出。同時，量子實驗還需要不斷地切換量子類波形，對波形的輸出時間、輸出規(guī)則有著特殊的要求。而DS70000系列任意波形發(fā)生器的高級序列可以解決量子領域的波形生成和自動化測試的需求。

此外，量子測試通常需要進行信號混頻，而DG70000同時內置最高5GHz的信號混頻，在部分場景可以無需進行外部混頻，解放通道。

高速數(shù)字測試驗證

隨著國際半導體行業(yè)的熱度不斷升高，對于芯片測試的需求也逐年走高。高速數(shù)字接口是所有電子設計的核心。數(shù)據(jù)速率提高、集成密度增加是開發(fā)高端芯片的發(fā)展方向。在芯片測試領域，信號完整性的驗證對測試信號的要求不再是輸出簡單的規(guī)則波形，而是復雜多變的信號協(xié)議。

因此，算法的不斷提升，信號速率的不斷加快對測試測量信號源提出了新的要求：

抖動可控且穩(wěn)定的集成測試能力

大量自定義的基礎定制化信號

隨時可變的輸出時序要求

DG70000系列AWG完全可以滿足該類測試測量功能的需求。

5G通信復雜場景模擬

在5G通信、智能駕駛等領域，我們需要在實驗室條件下構建一個復雜、密集、動態(tài)變換的電磁環(huán)境，用來模擬真實環(huán)境。DG70000通過可復現(xiàn)的方式能有效推進模型的演化，并檢測被測系統(tǒng)對環(huán)境的適應性及抗干擾性能。

對于5G場景通信而言，儀器需要模擬出環(huán)境信號和環(huán)境干擾信號來應對復雜可控的測試場景。這類場景往往對信號源提出了很高的要求：

1、將模擬生成好的5G信號進行快速切換輸出驗證

2、模擬的干擾信號要盡可能的穩(wěn)定，可控，具有較低的信號抖動

DG70000任意波形發(fā)生器的高級序列功能能夠充分模擬出可控的高速復雜噪聲信號和環(huán)境信號，而其優(yōu)秀的輸出波形質量則滿足5G通信的測試測量性能要求。