與現(xiàn)有3U PXI數(shù)字子系統(tǒng)采用“單一”定時系統(tǒng)（其中所有I/O通道都用同一時鐘邊緣進行時鐘）不同，每引腳動態(tài)定時系統(tǒng)提供了在多通道基礎(chǔ)上獨立和動態(tài)定位數(shù)據(jù)的靈活性。

此外，在模擬復(fù)雜的總線定時或測試脈沖寬度靈敏度時，數(shù)據(jù)格式（例如不歸零或歸零等）提供了更大的靈活性。

有了這些動態(tài)計時特性和數(shù)據(jù)格式，基于PXI的測試系統(tǒng)可以提供與大型ATE系統(tǒng)相當(dāng)?shù)臏y試能力。

動態(tài)計時意味著能夠在測試步驟內(nèi)以足夠的分辨率移動邊緣。

對于一個獨特的定時系統(tǒng)的挑戰(zhàn)是邊緣位置將被限制在向量時鐘速率的上升或下降邊緣，并且對于一個完整的向量突發(fā)，邊緣位置將是固定的。

例如，如果矢量時鐘速率為100MHz，則邊緣位置將被限制為5ns分辨率，且時鐘速率較慢，從而導(dǎo)致相應(yīng)的分辨率降低。為了充分表現(xiàn)和測試切換速率為100MHz或更高的數(shù)字設(shè)備，測試系統(tǒng)必須能夠以1ns或更好的分辨率在數(shù)據(jù)/時鐘邊緣進行增量和動態(tài)移動。一個典型的應(yīng)用是描述設(shè)備的設(shè)置和持續(xù)時間，這需要相對于時鐘的數(shù)據(jù)增量移動。

為了執(zhí)行此測試，數(shù)據(jù)（或時鐘）相對于時鐘（或數(shù)據(jù)）以小增量移動，從而允許設(shè)備實現(xiàn)完整的交流特性。使用數(shù)字子系統(tǒng)的多時間設(shè)置功能，可以為序列或測試步驟分配不同的值，允許時鐘邊緣通過設(shè)備的指定設(shè)置和持續(xù)時間范圍。

在不求采用1-GHz或更高的定時時鐘速率的情況下，一個提供足夠的定時分辨率的解決方案是采用動態(tài)時序內(nèi)插器。該內(nèi)插器能夠靈活地將驅(qū)動/感測測試矢量以1-ns或更好的分辨率定位在測試步驟內(nèi)的任何位置，而不僅僅是在矢量時鐘的邊緣邊界上。這種靈活性允許用戶精確地創(chuàng)建矢量定時，而無需求助于過采樣（over sampling）等變通方法，這是一種使用多個向量來實現(xiàn)中等邊緣位置分辨率的技術(shù)。此外，“動態(tài)”編程引腳時序的能力極大地簡化了時序Shmoo圖的創(chuàng)建/執(zhí)行、設(shè)備交流參數(shù)的驗證/特征描述，以及WGL、STIL和VCD測試向量的轉(zhuǎn)換。使用僅支持每引腳“靜態(tài)”計時的儀器來執(zhí)行這些測試需要更長的測試時間，在某些情況下，儀器的功能可能不適合應(yīng)用。

通過將每針定時結(jié)構(gòu)的特性與軟件工具相結(jié)合，可以很容易地表現(xiàn)出數(shù)字和混合信號設(shè)備的動態(tài)性能。例如，通過使用二維Shmoo圖，可以基于電源變化或其他參數(shù)來表征設(shè)備的性能。圖4詳細說明了這兩個參數(shù)與電源變化的Shmoo圖。在每種情況下，在一系列定時和電源條件下將測試向量應(yīng)用于被測設(shè)備，并顯示每個特定操作條件下的通過/失敗結(jié)果。

圖 4、建立并保持Shmoo圖

總結(jié)：

下一代PXI數(shù)字儀器提供的功能和測試功能通常只能在專用的ATE半導(dǎo)體系統(tǒng)中找到。隨著這些新的、先進的數(shù)字子系統(tǒng)的出現(xiàn)，基于PXI的半導(dǎo)體測試解決方案現(xiàn)在可以為數(shù)字、混合信號和射頻測試應(yīng)用提供更廣泛的測試能力和功能?，F(xiàn)在的PXI系統(tǒng)為驗證、集中生產(chǎn)和故障分析應(yīng)用提供了令人信服的測試解決方案，提供了與專用ATE相當(dāng)?shù)墓δ芎托阅堋?