另一個不可忽視的問題是模擬電路本身所帶來的噪聲、失調(diào)和增益誤差的影響，如圖 3所示簡化的電壓測量電路，第一張圖為1000V量程的測量通路，最高輸入電壓1000V時通過衰減電路會輸出1V電壓，放大電路不放大，跟隨電壓后送入ADC進(jìn)行采樣。如果輸入10V時衰減電路只能輸出0.01V的電壓，首先如此小的信號疊加噪聲后會對信號本身產(chǎn)生很大影響，其次由于放大電路（運(yùn)放）的失調(diào)和增益誤差的影響，哪怕只產(chǎn)生0.1mV的失調(diào)和增益誤差都會對0.01V的有效信號產(chǎn)生很大的誤差。在儀器的出廠前會對這些誤差進(jìn)行校準(zhǔn)以消除固有的偏差，不過因使用過程中溫度和老化的影響這些值會發(fā)生變化，在標(biāo)示儀器的精度指標(biāo)時會留有一定的余量以確保儀器處在可保證的精度內(nèi)，但是如果用大量程去測量小信號時溫度和老化產(chǎn)生的影響將無法得到保證。
在測量較小信號時應(yīng)使用圖 3 第二張所示的電路，首先衰減電路進(jìn)行較小倍數(shù)的衰減，10V輸入時衰減電路輸出0.1V，然后放大電路將有效信號放大10倍到1V送入ADC取樣。這樣的處理方式將會顯著減少噪聲、失調(diào)和增益誤差的影響，在包含小量程的測量設(shè)備中通常會采用這樣的方式或等效的方式進(jìn)行處理。
