虹科電源測試系統(tǒng)ATE升級

實(shí)現(xiàn)更高的測試密度和更低的測試成本

01、高密度精度測量單元

HK-HDPMU 在單板上提供多達(dá) 192 個額外的獨(dú)立參數(shù)測量單元 (PMU) 通道。虹科解決方案將增加并行測試，而無需創(chuàng)建復(fù)雜的設(shè)備接口板（DIB）。它可用于連續(xù)性、功能或參數(shù)測試，或者僅用于設(shè)備設(shè)置或加載。與 Teradyne IG-XL? 軟件完全集成、易于設(shè)置和高并行測量能力將顯著降低測試成本。

主要特征

√為您的 FLEX 測試儀添加多達(dá) 192 個獨(dú)立的 PMU 通道

√向后兼容現(xiàn)有測試程序和測試硬件

√與 IG-XL? 軟件集成

√經(jīng)過 OpenFLEX? 認(rèn)證

√低成本的擴(kuò)張?zhí)娲桨?

√快速的設(shè)置時間和靈活的配置

02、獨(dú)立設(shè)備電源

獨(dú)立設(shè)備電源 （IDPS） 可以通過多達(dá) 256 個獨(dú)立的 DPS 源擴(kuò)展您現(xiàn)有的自動化測試設(shè)備 （ATE），以增加并行測試。它提供力電壓 （FV） 和測量電流 （MI），可用于連續(xù)性測試、參數(shù)電源電流 （IDD） 和靜態(tài)電源電流 （IDDQ） 測量，或僅用于為被測設(shè)備供電。HK-IDPS750旨在降低各種應(yīng)用的測試成本，包括智能卡、存儲器、微處理器和FPGA。其設(shè)計(jì)使其在需要許多資源或原始ATE電源不符合所需規(guī)格的應(yīng)用中非常有幫助。

主要特征

√擴(kuò)展 Teradyne J750? 的低成本替代方案

√通過向測試儀添加多達(dá) 256 個獨(dú)立設(shè)備電源來增加并行測試

√與 IG-XL? 軟件集成

√通過硬件校準(zhǔn)系數(shù)減少編程和設(shè)置時間

03、實(shí)用設(shè)備電源

混合信號、模擬和射頻等應(yīng)用的負(fù)載板需要有源元件。為了驅(qū)動這些有源組件，需要多個公用電源。HK-SE-UDPS 是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的選擇，可為您的 Advantest? V93K 添加更多公用電源，以驅(qū)動運(yùn)算放大器、緩沖器、繼電器和開關(guān)。您還可以最大限度地減少在負(fù)載板上添加外部電源的成本。

主要特征

√擴(kuò)展您現(xiàn)有 V93K 測試儀組的功能

√負(fù)載板上其他電子設(shè)備的電源，例如：運(yùn)算放大器、緩沖器、繼電器、開關(guān)等。

√Advantest? 提供支持

√與任何其他 DPS 混合