2、光纖高度測(cè)量示值重復(fù)性：選取3~5種不同高度的標(biāo)準(zhǔn)光纖高度塊作為測(cè)量點(diǎn)重復(fù)測(cè)量次數(shù)10次，得到測(cè)量示值誤差的同時(shí)，也可通過計(jì)算實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)差得到該測(cè)量點(diǎn)的示值重復(fù)性。這里需特別說明，有部分廠家說明書中的重復(fù)性、再現(xiàn)性。
3、標(biāo)準(zhǔn)光纖高度塊：近幾年來，隨著臺(tái)階高度測(cè)量需求的猛增，主要通過經(jīng)國家計(jì)量院定期溯源的標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階塊來解決標(biāo)準(zhǔn)光纖高度塊的量值溯源問題，可采用標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階塊、白光干涉儀、輪廓儀、原子力顯微鏡等多種非接觸或接觸式測(cè)量方法進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)光纖高度的定值。
4、曲率半徑：可采用萬能測(cè)長(zhǎng)儀、工具顯微鏡接觸或非接觸的測(cè)量方法標(biāo)準(zhǔn)球面進(jìn)行曲率半徑的定植；
5、曲率半徑：可采用萬能工具顯微鏡
主要爭(zhēng)議及解決方法：
1、關(guān)于規(guī)范適用的測(cè)量范圍如何界定
目前使用中的錫膏厚度測(cè)量?jī)x的測(cè)量范圍大多在（20~400）μm左右，部分新的儀器最大厚度可達(dá)到1 mm以上。根據(jù)查詢資料及調(diào)研統(tǒng)計(jì)，大部分錫膏測(cè)厚儀的常用范圍在（100~150）μm，極少有達(dá)到幾百微米以上，實(shí)際上不可能將錫膏做到這么大的厚度。起草組經(jīng)討論后決定將規(guī)范適用范圍定為（0~600）μm，最大校準(zhǔn)點(diǎn)達(dá)到測(cè)量上限的2/3，故標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階塊最大厚度達(dá)到400 μm即可。
2、關(guān)于規(guī)范是否需要提出示值誤差和重復(fù)性的技術(shù)要求
目前國內(nèi)外各生產(chǎn)廠家對(duì)各自產(chǎn)品標(biāo)稱的精度差異很大，部分廠家將分辨力、重復(fù)精度與測(cè)量精度等概念混用，有些標(biāo)稱測(cè)量精度甚至達(dá)到零點(diǎn)幾微米；某些廠家的技術(shù)指標(biāo)明顯存在問題，例如測(cè)量精度為1微米，重復(fù)精度卻為3微米。實(shí)際上，PCB板上的錫膏塊通常是不規(guī)則形狀而非完全平整的，零點(diǎn)幾微米的厚度測(cè)量精度沒有實(shí)用意義。因此沒有必要為了驗(yàn)證廠家虛標(biāo)的技術(shù)指標(biāo)，而去花費(fèi)大量的時(shí)間和資源去提高標(biāo)準(zhǔn)器的精度。
另一方面，根據(jù)調(diào)研，大部分錫膏產(chǎn)品的控制公差為幾十微米，錫膏厚度測(cè)量?jī)x的示值誤差在幾微米到十微米左右應(yīng)可滿足使用要求。由于各類產(chǎn)品的制造要求存在差異，應(yīng)由使用者依據(jù)實(shí)際情況確定驗(yàn)收指標(biāo)較為合理。
故本規(guī)范對(duì)于示值誤差和重復(fù)性不提出統(tǒng)一的技術(shù)要求。
3、關(guān)于如何確定標(biāo)準(zhǔn)器的精度
由于錫膏厚度測(cè)量?jī)x采用激光三角法或摩爾輪廓測(cè)量法，對(duì)測(cè)量面一般要求不能為鏡面反射，所以需對(duì)標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階塊表面進(jìn)行啞光處理，在一定程度上限制了標(biāo)準(zhǔn)器的精度。出于經(jīng)濟(jì)性和一般工藝水平的考慮，起草組認(rèn)為標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階塊的不確定度達(dá)到1微米的水平較為合適。如實(shí)際標(biāo)準(zhǔn)器不確定度大于1微米，則應(yīng)根據(jù)客戶提出的技術(shù)指標(biāo)來判斷能否使用，通常標(biāo)準(zhǔn)器不確定度應(yīng)不大于技術(shù)指標(biāo)的1/3。
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聯(lián) 系 電 話：010-64524972/6538，13671381740
附件：光纖端面干涉儀校準(zhǔn)規(guī)范（征求意見相關(guān)文件）
