測(cè)試作為集成電路行業(yè)的關(guān)鍵技術(shù)之一，是行業(yè)相關(guān)從業(yè)人員必須要掌握的重點(diǎn)內(nèi)容，隨著芯片設(shè)計(jì)和制造技術(shù)向高集成化、小型化發(fā)展，深亞微米、人工智能等技術(shù)的日趨成熟給相應(yīng)測(cè)試技術(shù)帶來(lái)現(xiàn)實(shí)挑戰(zhàn)，既要提高測(cè)試效率又要降低測(cè)試成本是測(cè)試工程師始終需要考慮的問題。本次培訓(xùn)安排2天時(shí)間，讓參訓(xùn)人員掌握集成電路測(cè)試的原理和可測(cè)試性設(shè)計(jì)的概念，學(xué)習(xí)測(cè)試過(guò)程分析和測(cè)試良率提升方法在實(shí)際測(cè)試過(guò)程中的應(yīng)用是本次培訓(xùn)主要目的。
基本信息
培訓(xùn)課時(shí)：2天（第一天 集成電路制造測(cè)試流程，測(cè)試和DFT的概念，測(cè)試向量，ATPG、第二天 測(cè)試良率和測(cè)試系統(tǒng)的分析，內(nèi)容涵蓋D0良率模型，CP/CPK,R&R等）；
培訓(xùn)要求：集成電路行業(yè)從業(yè)人員；
培訓(xùn)對(duì)象：集成電路行業(yè)測(cè)試工程師，產(chǎn)品工程師，質(zhì)量工程師，設(shè)計(jì)工程師和工藝開發(fā)工程師等；
培訓(xùn)費(fèi)用：培訓(xùn)定價(jià)3600元，本次為第一次對(duì)外開班，報(bào)名即享5折優(yōu)惠（1800元），限額6人。
培訓(xùn)內(nèi)容
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類別 |
主題 |
目標(biāo) |
內(nèi)容 |
用時(shí)（分） |
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集成電路測(cè)試基礎(chǔ) |
集成電路設(shè)計(jì)制造流程 |
了解集成電路設(shè)計(jì)和制造流程 |
集成電路設(shè)計(jì)流程 集成電路制造流程 測(cè)試在IC制造中的作用和地位 |
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測(cè)試和可測(cè)試性設(shè)計(jì) |
了解測(cè)試的必要性 |
測(cè)試的概念 測(cè)試向量（激勵(lì)，響應(yīng)，時(shí)序） 故障模型 測(cè)試的分類 |
60 |
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理解可測(cè)試性設(shè)計(jì)相關(guān)概念 |
ATPG 并發(fā)測(cè)試（NVM）） |
30 |
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制造過(guò)程中的測(cè)試 |
了解ATE測(cè)試 |
測(cè)試負(fù)載板 測(cè)試程序 IO timing設(shè)定 測(cè)試儀精度和準(zhǔn)確度 |
60 |
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了解老化測(cè)試 |
老化測(cè)試的概念及分類 |
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了解QA抽樣測(cè)試 |
抽樣測(cè)試的概念 制造過(guò)程中抽樣SOTF |
30 |
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測(cè)試系統(tǒng)分析和測(cè)試 良率 |
測(cè)試良率 |
掌握良率模型 |
泊松模型 Bose-Einstein模型 二項(xiàng)式模型 實(shí)例分析 |
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測(cè)試過(guò)程能力評(píng)價(jià) |
掌握CP/CPK |
CP/CPK的概念、計(jì)算及評(píng)價(jià) 實(shí)例分析 |
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測(cè)試規(guī)范設(shè)置 |
合理設(shè)定測(cè)試規(guī)范 |
sigma的概念 PVT的概念 實(shí)例分享 |
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測(cè)量系統(tǒng)分析 |
評(píng)價(jià)測(cè)試系統(tǒng)可靠性 |
測(cè)試重復(fù)性和重現(xiàn)性的概念 多測(cè)良系統(tǒng)的R&R 實(shí)例分析 |
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關(guān)鍵詞:儀器儀表 電子測(cè)量 技術(shù)培訓(xùn) 瀏覽量：15376
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