金陵科技學(xué)院是南京公辦全日制普通本科院校，是教育部應(yīng)用科技大學(xué)改革試點戰(zhàn)略研究單位、中國應(yīng)用技術(shù)大學(xué)（學(xué)院）聯(lián)盟創(chuàng)始單位、長三角地區(qū)應(yīng)用型本科高校聯(lián)盟主席單位。2021年獲批為碩士學(xué)位授予單位。

近日，金陵科技學(xué)院電信學(xué)院需采購專業(yè)測量設(shè)備一批，預(yù)算198萬元人民幣。

采購需求：

（1）光譜測試系統(tǒng)1套，能對半導(dǎo)體集成電路材料器件進(jìn)行光致發(fā)光與電致發(fā)光熒光光譜等光電子學(xué)性能進(jìn)行測試表征；能與真空探針臺配套，進(jìn)行低溫與變溫真空環(huán)境下，集成電路材料器件微區(qū)光電子特性表征與檢測；并提供數(shù)據(jù)與圖形分析報告。

（2）半導(dǎo)體參數(shù)分析儀1臺，通過與真空探針臺配套使用，能對各種狀態(tài)下集成電路器件電流-電壓、電容-電壓、氧化層厚度、柵面積、串聯(lián)電阻、平帶電容-電壓、體摻雜、德拜長度等進(jìn)行測試表征分析研究；并提供測試數(shù)據(jù)報告圖形和分析功能。

（3）真空探針臺1套，精確提供低溫、變溫和真空環(huán)境；其帶有電學(xué)測試接口，用于連接外部集成電路參數(shù)分析測試系統(tǒng)并配套使用；能對集成電路器件進(jìn)行非破壞性I-V，C-V、DLTS/DLOS 等電學(xué)性能測試分析。

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