如上圖，給某個(gè)電容施加20V直流偏置電壓時(shí)，電容值會(huì)從初始值C0開始增加，經(jīng)過(guò)一段時(shí)間后最終穩(wěn)定在C1，從C0到C1所消耗的時(shí)間即為響應(yīng)時(shí)間Th。由于器件被施加偏壓后的瞬態(tài)變化非?？?，需要測(cè)試儀器的采樣時(shí)間小于1ms（即1000次/s），才能得到精確的響應(yīng)特性曲線。TH2840系列不僅可以達(dá)到0.56ms的最高采樣速度，同時(shí)又能保證測(cè)試參數(shù)的高精度，并且自帶±40V偏壓，支持多通道測(cè)試，是高速測(cè)試的不二選擇。
關(guān)鍵詞:TH2840系列 高速測(cè)試 電子測(cè)量 瀏覽量：7254
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