1、日益發(fā)展的技術(shù)對(duì)電源噪聲測試的挑戰(zhàn)
隨著5G、車聯(lián)網(wǎng)等技術(shù)的飛速發(fā)展，信號(hào)的傳輸速度越來越快，集成電路芯片的供電電壓隨之越來越小。早期芯片的供電通常是5V和3.3V，而現(xiàn)在高速IC的供電電壓已經(jīng)到了2.5V、1.8V或1.5V，有的芯片的核電壓甚至到了1V。芯片的供電電壓越小，電壓波動(dòng)的容忍度也變得越苛刻。對(duì)于這類供電電壓較小的高速芯片的電壓測試用電源噪聲表示，測求要求從±5%到 ±-1.5%，乃至更低。
圖1 日益發(fā)展的技術(shù)對(duì)芯片電壓測試的挑戰(zhàn)
如果芯片的電源噪聲沒有達(dá)到規(guī)范要求，就會(huì)影響產(chǎn)品的性能，乃至整機(jī)可靠性。因此工程師需要準(zhǔn)確地測量現(xiàn)代電路產(chǎn)品中的芯片電壓的電源噪聲。
2、芯片電源噪聲的特點(diǎn)
2.1 更小幅度，更高頻率
以往電源噪聲的要求維持在幾十mV的量級(jí)，而隨著芯片電壓的降低，很多芯片的電源噪聲已經(jīng)到了mV的量級(jí)，某些電源敏感的芯片要求甚至到了百uV的量級(jí)。直流電源上的噪聲是數(shù)字系統(tǒng)中時(shí)鐘和數(shù)據(jù)抖動(dòng)的主要來源。處理器、內(nèi)存等芯片對(duì)直流電源的動(dòng)態(tài)負(fù)載隨著各自時(shí)鐘頻率而發(fā)生，并可能在直流電源上耦合高速瞬態(tài)變化和噪聲，它們包含了1 GHz以上的頻率成分。
因此與傳統(tǒng)的電源相比，芯片電源的噪聲具有頻率高/幅度小等特點(diǎn)，這就為了工程師準(zhǔn)確地測得芯片的電源噪聲帶來了挑戰(zhàn)。
表1 傳統(tǒng)電源和芯片電源頻率和噪聲范圍
2.2 電源分布網(wǎng)絡(luò)（PDN）引入的噪聲干擾
為了保證電路上各個(gè)芯片的供電，電源分布網(wǎng)絡(luò)（PDN）遍布整個(gè)PCB。如果電源分布網(wǎng)絡(luò)靠近時(shí)鐘或者數(shù)據(jù)的PCB走線，那么時(shí)鐘/數(shù)據(jù)的變化會(huì)耦合到電源分布網(wǎng)絡(luò)上，也會(huì)成為電源噪聲的來源。在這種情況下，工程師還需要定位電源噪聲的來源，以便后續(xù)調(diào)整PCB的布局和布線，減少PDN網(wǎng)絡(luò)受到的干擾。
圖2 時(shí)鐘/數(shù)據(jù)傳輸線耦合到電源分布網(wǎng)絡(luò)的干擾
3、影響電源噪聲測試準(zhǔn)確性的因素
示波器是電源噪聲測試的重要儀器。為了能夠準(zhǔn)確地測量GHz帶寬內(nèi)mV級(jí)別的電源噪聲，并定位干擾電源分布網(wǎng)絡(luò)的噪聲來源，需要考慮如下因素：示波器的底噪，探頭的衰減比，示波器的偏置補(bǔ)償能力，探頭的探接方式，以及示波器的FFT能力等等。
3.1 示波器底噪
示波器本身是有噪聲的。當(dāng)示波器測試電源噪聲時(shí)，其底噪會(huì)附加到被測的電源噪聲上，進(jìn)而影響電源噪聲的測試結(jié)果。
圖3 示波器底噪對(duì)電源噪聲測試結(jié)果的影響
3.2 探頭的衰減比
目前最常用的500MHz帶寬的無源探頭的衰減比為10:1，其會(huì)放大示波器的底噪，影響電源噪聲測試的不確定性。
如果用傳統(tǒng)的衰減比為1:1的無源探頭，可以避免放大示波器的底噪。但是這種探頭的帶寬一般在38MHz，無法測到更高頻率的電源噪聲。同樣會(huì)影響電源噪聲測試的不確定性。
所以，為了準(zhǔn)確測量電源噪聲，需要一款衰減比為1:1，帶寬到GHz的探頭。
圖4 探頭的衰減比對(duì)電源噪聲測試的影響
3.3 示波器的偏置補(bǔ)償能力
