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太陽能硅片自動分檢系統(tǒng)根據(jù)客戶的實際需求，整合上下游企業(yè)的相關(guān)需求，為太陽能硅片生產(chǎn)企業(yè)提供了完整的檢測解決方案，降低了硅片檢測成本，為企業(yè)創(chuàng)造價值。

【產(chǎn)品描述】
該系統(tǒng)可對太陽能硅片的電性能、幾何尺寸、外觀缺陷進行全自動分揀，硅片生產(chǎn)企業(yè)應(yīng)用此系統(tǒng)，替代以往人工檢測方式，大大提高了檢測效率，充分滿足了硅片使用廠家的質(zhì)量要求，同時降低了該企業(yè)和下游企業(yè)的整體質(zhì)控成本，提高了客戶在行業(yè)的競爭力。

產(chǎn)品外觀

硅片分檢

【基本原理】
系統(tǒng)整體采用非接觸測量方式，通過在流水線中設(shè)置五個工位，分別實現(xiàn)硅片各個參數(shù)的檢測。其中，電阻率、厚度、TTV、P/N型號、Bow/Warp采用電渦流法和電容法實現(xiàn)非接觸自動檢測；輪廓尺寸采用機器視覺技術(shù)實現(xiàn)；隱裂、孔洞缺陷通過紅外視覺技術(shù)實現(xiàn)；表面臟污缺陷通過機器視覺技術(shù)并輔以特殊設(shè)計光源實現(xiàn)；線痕缺陷通過光針掃描技術(shù)實現(xiàn)。

【規(guī)格指標】
（1）能夠適應(yīng)三種規(guī)格單晶硅片檢測需求，包括6吋（邊長125mm×125mm，對角線150mm）、6.5吋（邊長125mm×125mm，對角線165mm）、8吋（邊長156mm×156mm，對角線200mm）；

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