探測DDR信號會面臨測試點選擇的挑戰(zhàn),根據(jù)JEDEC規(guī)范的定義,所有測量均應(yīng)在存儲芯片的輸出引腳上進(jìn)行。之所以面臨挑戰(zhàn),是因為很多場合無法訪問存儲芯片的引腳。...
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