一、軌跡檢波的概念

在頻譜分析模式下，當(dāng)掃描類(lèi)型為掃頻時(shí)，信號(hào)/頻譜分析儀通過(guò)數(shù)字方式控制本振以極小的頻率步進(jìn)掃描，在整個(gè)掃描期間，數(shù)字中頻電路中的ADC捕獲的采樣點(diǎn)數(shù)通常遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于信號(hào)/頻譜分析儀用于顯示的掃描點(diǎn)數(shù)。當(dāng)掃描類(lèi)型為FFT時(shí)，信號(hào)/頻譜分析儀將本振調(diào)諧為固定頻率點(diǎn)，在整個(gè)測(cè)量期間，數(shù)字中頻電路中的ADC捕獲的采樣點(diǎn)數(shù)執(zhí)行FFT計(jì)算后，也可能大于信號(hào)/頻譜分析儀用于顯示的掃描點(diǎn)數(shù)。

例如，假定ADC采樣速率為100MSa/s，掃描點(diǎn)數(shù)為1000，掃描時(shí)間為100ms，頻寬為1GHz。當(dāng)執(zhí)行一次掃描，信號(hào)/頻譜分析儀捕獲了100×105個(gè)采樣點(diǎn)數(shù)，需要將其轉(zhuǎn)變成1001個(gè)軌跡數(shù)據(jù)。相當(dāng)于每100000個(gè)采樣數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)一點(diǎn)軌跡數(shù)據(jù)，每一個(gè)軌跡數(shù)據(jù)代表頻率范圍為1MHz內(nèi)出現(xiàn)的信號(hào)。如果增加掃描點(diǎn)數(shù)，每一個(gè)軌跡數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的頻寬也越窄，測(cè)量結(jié)果越穩(wěn)定，頻率讀出準(zhǔn)確度越高。

由以上分析可以看出，軌跡顯示需要將較多的采樣數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)處理成較少的掃描軌跡點(diǎn)數(shù)，這就是軌跡檢波需要做的事情。

二、常見(jiàn)軌跡檢波方式

軌跡檢波方式有多種類(lèi)型，常見(jiàn)的軌跡檢波方式有如下7種：

1. 正常檢波
從分配到每個(gè)軌跡點(diǎn)的采樣數(shù)據(jù)中取最大值和最小值，并同時(shí)顯示出來(lái)。

2. 正峰值檢波
從分配到每個(gè)軌跡點(diǎn)的采樣數(shù)據(jù)中取一個(gè)最大值顯示出來(lái)。

3. 負(fù)峰值檢波
從分配到每個(gè)軌跡點(diǎn)的采樣數(shù)據(jù)中取一個(gè)最小值顯示出來(lái)。

4. 取樣值檢波
從分配到每個(gè)軌跡點(diǎn)的采樣數(shù)據(jù)中取最后一個(gè)值顯示出來(lái)。

5. 功率平均檢波

也稱(chēng)有效值（RMS）檢波，計(jì)算分配到每個(gè)軌跡點(diǎn)的所有采樣數(shù)據(jù)的均方值；SP900系列信號(hào)/頻譜分析儀對(duì)射頻輸入信號(hào)包絡(luò)檢波后得到線性電壓值，對(duì)這些電壓值平方后求和，再除以每個(gè)軌跡點(diǎn)對(duì)應(yīng)的采樣數(shù)據(jù)點(diǎn)數(shù)，最后進(jìn)行開(kāi)方運(yùn)算。顯示刻度類(lèi)型為對(duì)數(shù)時(shí)，對(duì)這些均方根值進(jìn)行20倍的以10為底的對(duì)數(shù)變換后，得到軌跡數(shù)據(jù)。顯示刻度類(lèi)型為線性時(shí)，這些均方根值就是軌跡數(shù)據(jù)。

6. 電壓平均檢波