作者在論文中提到，類似供體的邊界陷阱也會(huì)影響背照式CMOS圖像傳感器的長(zhǎng)期性能。TDDB和NBTI是對(duì)器件壽命的評(píng)估方式。與預(yù)期相同，邊界陷阱對(duì)兩種評(píng)估方式的作用不同，但是無論如何，相對(duì)前照式CMOS圖像傳感器，背照式CMOS圖像傳感器可靠性都會(huì)下降。
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作者在論文中提到，類似供體的邊界陷阱也會(huì)影響背照式CMOS圖像傳感器的長(zhǎng)期性能。TDDB和NBTI是對(duì)器件壽命的評(píng)估方式。與預(yù)期相同，邊界陷阱對(duì)兩種評(píng)估方式的作用不同，但是無論如何，相對(duì)前照式CMOS圖像傳感器，背照式CMOS圖像傳感器可靠性都會(huì)下降。
關(guān)鍵詞:CMOS圖像傳感器 FSI BSI 優(yōu)劣 瀏覽量：1602
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